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芯片高低温变温测试台

更新时间:2024-01-26 13:58:31 信息编号:1c3latfra3f9ab
芯片高低温变温测试台
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详情介绍

产品别名
高低温变温测试台,半导体
面向地区
品牌
其它
适用工件
平面
自动化程度
全自动
打印方向
双向打印

芯片高低温变温测试台

芯片高低温变温测试台是一款针对芯片、光器件变温性能测试的多功能测试平台,XYZ轴可任意调节,XY轴调节范围0-250mm,轴调节范围0-200mm,控温精度±0.01℃,控温范围-50℃-120℃(非标可定制),触摸屏控制,友好的人机界面,RS232、RS484远程控制接口,无噪声、无振动,升降速率可调。组成部分:半导体冷热台、半导体温度控制器、温控软件、水循环系统(选配)。样品台尺寸 可根据实际要求定制。常规尺寸:从 40*40mm, 50*50mm, 55*55mm到300mm*300mm。形状:圆形,方形等可根据实际需要定制

武汉光旗电子科技有限公司 1年

  • 半导体温控器,半导体驱动模块
  • 武汉东湖新技术开发区光谷大道303号光谷·芯中心三期4-02幢9层2厂房单元号-5、6号

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