产品别名 |
7KV超小型组合式抗干扰模 |
面向地区 |
UCS500N7-超小型组合式抗干扰模拟器
产品特点：
电快速瞬变脉冲群模块 (IEC / EN 61000-4-4)
浪涌模块 (IEC / EN 61000-4-5)
电压跌落模块 (IEC / EN 61000-4-11)
振铃波模块 (IEC / EN 61000-4-12) - 选件
通信浪涌模块 (IEC / EN 61000-4-5) - 选件
工频磁场、脉冲磁场测试附件 - 选件
内置 300 V / 16 A 单相耦合网络
USB 和 GPIB-BUS 接口，用于远程控制
前面板手动操作
峰值电压和峰值电流监测输出端口
失效侦测功能
0 - 10 V 直流信号控制外置自动调压器
可控制外置三相耦合网络
应用：
UCS 500N7 - 的超小型组合式抗干扰测试设备，完全符合 IEC 61000-4-x 及 ANSI/IEEE C62.41 标准
UCS 500N7 超小型模拟器是一台多功能测试设备，它能够满足国际标准(基本标准与通用标准)和产品系列标准对瞬变、脉冲、浪涌和电压跌落测试的各种要求，测试电压高可达7.0kV。
针对浪涌测试，除了满足 IEC61000-4-5 的要求之外，它还能满足 ANSI/IEEEC62.41 标准对于浪涌和振铃波的测试要求。
UCS 500N7 还是为经济的全兼容抗扰度测试方案，满足欧盟CE 认证对抗扰度测试的全部要求。内置的耦合/去耦网络适用于单相设备测试，通过自动控制的外置耦合网络(高可达100A)还可进行三相受试设备测试。
EM TEST 为您提供多种测试所需附件，用来满足例如磁场测试等各种应用需求。
标准：
ANSI/IEEE C62.41
IEC 60255-22-5
IEC 61000-4-11
IEC 61000-4-12
IEC 61000-4-29
IEC 61000-4-4
IEC 61000-4-5
IEC 61000-4-8
IEC 61000-4-9
IEC 61008-1
IEC 61009-1
IEC 61326
IEC 61850-3
优点：
一台测试设备满足您关于抗干扰测试的全部需求，测试电压高可达 7.0KV
UCS 500N7 能够进行全兼容抗干扰测试。主机和被测设备分别立供电。浪涌测试满足 IEC 61000-4-5 和 ANSI/IEEEC62.41 的要求，测试电压高可达 7.0kV。UCS 500N7 能够集成振铃波模块（选件），按照 ANSI/IEEE C62.41 和 IEC 61000-4-12标准的要求进行电源线振铃波测试。
UCS 500N7 可直接在前面板手动操作或通过内置 USB 或 GPIB 接口实现远程控制。失效侦测功能使得用户可以根据被测设备控制测试序列。监测输出端口（BNC）功能使用户方便地测量和校准信号。此外，UCS 500N7 还具备例如自锁和警示灯这样的安全保障功能。
预编程的标准测试程序使用方便。通过快速启动测试程序，用户可以在测试过程中在线调整测试参数，从而对单个被测设备的敏感度水平做出评估
附件：
CNI 503 - 用于脉冲群和浪涌测试的三相耦合 / 去耦网络
EMTEST 提供一系列针对脉冲群和浪涌测试的全自动三相耦合 / 去耦网络，以拓展针对三相被试设备的测试能力。网络的标称电流大可达 100 A。
MV 2616 - 用于电压变化测试的自动调压器
MV2616 自动调压器作为抽头变压器的替代测试方案，能够按照 IEC61000-4-11 标准的要求，进行电压暂降，短时中断和电压变化测试。此外，还可用于进行自动磁场测试。
CNV 504N/508N - 用于浪涌测试的信号 / 数据线耦合 / 去耦网络
CNV504N / 508N 耦合 / 去耦网络能够将浪涌脉冲耦合到I / O 线，信号/数据线和通信线上，满足 IEC 61000-4-5标准要求。
MS 100N - 磁场线圈，用于工频磁场和脉冲磁场测试
MS 100N 是一个 1 m * 1 m 的磁场线圈，符合 IEC / EN61000-4-8 和 IEC / EN61000-4-9 标准的要求。该线圈可以轻松移动，能够调节高度，并可进行 360 度旋转。当需要产生低等级的工频磁场强度时，可配合使用电流互感器 MC 2630。针对 100 A / m 以上的高等级场强测试，则需要配合使用 MC 26100 电流互感器。
HFK - 电容耦合钳
HFK 电容耦合钳完全满足 IEC 61000-4-4 标准要求。
CA EFT kit - 电快速瞬变 / 脉冲群校验组件
按照 IEC 61000-4-4 Ed.2 标准的要求，脉冲群的特性需由 50 ohm 和 1,000 ohm 两种不同的负载进行验证。EM TEST 为用户提供包含这两种负载电阻和一个适配器在内的校准组件，用来对被试设备输出端口进行校验。
