产品别名 |
QFN测试座,LGA测试座,DDR测试座 |
面向地区 |
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QFN24-4X4P0.5顶窗
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座，对QFN24的IC芯片进行老化、烧写、测试
B、适用封装:QFN24引脚间距0.5mm
C、测试座:QFN24-0.5
D、特点:采用探针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次
E、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max
F、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:QFN-24-0.5
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:24
D、芯片尺寸:5*5mm
产品特点：
Open Top 测试座主要用于各种半导体芯片的自动烧录等。
可根据客户的需求，如频率，电流，阻抗等，提供合适的材料及测试结构。
测试座的结构可以是open top式的，也可以是ATE机台式。
可根据客户需求定制各种socket尺寸。
产品规格：
测试座材料： PEI/PPS/PEEK/Torlon
座头材料： 铝合金6061/PEI
探针类型： 弹簧探针POGO PIN
工作温度： -40 ~ 140度
探针机械寿命： 100k次
探针弹力： 20g ~ 30g
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