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南麟LN709内置延时低功耗电压检测

更新时间:2024-04-16 11:06:08 信息编号:ce2ql7q30848c9
南麟LN709内置延时低功耗电压检测
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  • 上海

  • 半导体

  • LDO稳压器,DC-DC,MOS管,电源IC

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详情介绍

南麟LN709内置延时低功耗电压检测

产品别名
电源芯片,驱动芯片,复位芯片,开关芯片
面向地区
商品产地
上海
材料物理性质
半导体
材料晶体结构
单晶
材料
混合物
制作工艺
集成
输出信号
模拟型
质检报告
南麟LN709内置延时低功耗电压检测
南麟LN709内置延时低功耗电压检测
南麟LN709内置延时低功耗电压检测
■ 操作注释  CMOS 输出(特别地注意 4 点)
① 当Vin端输入电压释放电压release voltage (VDR),这个电压将逐步降低。当VIN端输入电压检测电压detect
voltage (VDF),输出电压与输入电压相等。
注意N管漏开路输出方式中,Vin高时为输出等效高阻,采用上拉电阻,Vout应等于上拉电压。
② 当Vin下降至低于Vdf,Vout应该等于地电压。N管漏开路输出方式也是同样的功能。 当Vin低于低工作电压,输出Vout
是不稳定的。N管漏开路输出方式中输出会被逐渐被上拉。
④ Vin从地电位升起(不同于从低工作电压的电位升起),在上升速度足够快的情况下,Vout等于上拉电压,否则将
等于地电位,经过延时后等于上拉电压。
⑤ Vin释放电压后,Vout将保持地电位直至内置延时结束。
⑥ 延时结束后,Vin将等于Vout,注意N管漏开路输出方式中,使用用上拉电阻才能实现此功能。
注意:
1.VDR 与VDF的区别在于VDR为VDF加迟滞电压
2.内置延时(tDLY)表示Vin恢复至超过VDF后,至输出Vout变为Vin的这段时间

深圳市东诚兴电子有限公司 3年

  • 电源管理芯片,MOS管,充电芯片,电子元器件
  • 广东深圳龙岗深坂田街道布龙路东海王大厦C栋301

———— 认证资质 ————

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